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首页 SCI期刊 工程技术 Ieee Transactions On Very Large Scale Integration (vlsi) Systems杂志介绍(非官网)
Ieee Transactions On Very Large Scale Integration (vlsi) Systems
  • 中科院分区：2区
  • JCR分区：Q2
  • CiteScore ：6.9

Ieee Transactions On Very Large Scale Integration (vlsi) SystemsSCI SCIE

国际简称：IEEE T VLSI SYST 中文名称：超大规模集成 (vlsi) 系统上的 Ieee 事务

Ieee Transactions On Very Large Scale Integration (vlsi) Systems杂志是一本工程技术-工程：电子与电气应用杂志。是一本享有盛誉的顶级学术杂志，由IEEE-INST ELECTRICAL ELECTRONICS ENGINEERS INC出版，该期刊创刊于1993年，出版周期为Bimonthly，始终保持着高质量和高水平的学术内容。在中科院分区表2022年12月升级版中，被归类为大类学科分区2区，显示出其卓越的学术水平和影响力。

  • ISSN：1063-8210

  • 出版地区：UNITED STATES

  • 出版周期：Bimonthly

  • E-ISSN：1557-9999

  • 创刊时间：1993

  • 出版语言：English

  • 是否OA：未开放

  • 预计审稿时间：一般,3-6周

  • 影响因子：2.037

  • 是否预警：否

  • 研究方向：工程技术,工程：电子与电气

  • 年发文量：253

  • 研究类文章占比：100.00%

  • Gold OA文章占比：9.33%

  • H-index：95

  • 出版国人文章占比：0.15

  • 开源占比：0.075

  • 文章自引率：0.0797...

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杂志简介 期刊指数 中科院分区表 JCR 分区 CiteScore 分区 文章摘录 相关杂志

杂志简介

IEEE Transactions on VLSI Systems 作为月刊出版，由 IEEE 电路和系统协会、IEEE 计算机协会和 IEEE 固态电路协会共同赞助。

使用 VLSI/ULSI 技术设计和实现微电子系统需要系统架构、逻辑和电路设计、芯片和晶圆制造、封装、测试和系统应用领域的科学家和工程师之间的密切合作。规范的生成、设计和验证必须在所有抽象级别执行，包括系统、寄存器传输、逻辑、电路、晶体管和工艺级别。

为了通过一个公共论坛解决这一关键领域，IEEE Transactions on VLSI Systems 成立了。由国际专家组成的编委邀请原创论文，强调和评价微电子系统的新颖系统集成方面，包括系统设计和分区、逻辑和存储器设计、数字和模拟电路设计、布局合成、CAD工具、芯片之间的交互晶圆制造、测试和封装以及系统级认证。因此，这些交易的覆盖面将集中在 VLSI/ULSI 微电子系统集成上。

值得一提的是，Ieee Transactions On Very Large Scale Integration (vlsi) Systems已成功入选SCI（科学引文索引） 、 SCIE（科学引文索引扩展板） 等国际知名数据库，这进一步彰显了其作为国际优秀期刊的卓越地位和广泛影响力。自创刊以来，该杂志一直保持着Bimonthly的出版周期，以高质量、高水平的学术内容著称。在JCR（Journal Citation Reports）分区等级中，该期刊荣获Q2评级。此外，其CiteScore指数达到6.9，该期刊2022年的影响因子达到2.8，再次验证了其优秀学术水平。

Ieee Transactions On Very Large Scale Integration (vlsi) Systems是一本未开放获取期刊，但其高质量的学术内容和广泛的影响力使其成为了工程技术-计算机硬件研究领域不可或缺的重要刊物。无论是对于学者、研究人员还是学术界来说，该期刊都是一份不可或缺的重要资源。

期刊指数

中科院SCI分区
CiteScore指数
自引率
发文量
影响因子

中科院SCI分区是中国科学院对SCI期刊进行的一种分类和评级。在学术界，中科院SCI分区被广泛应用于科研业绩奖励、职称评审等方面。许多高校和科研单位会按照中科院SCI分区的标准来加权计算科研成果的影响力。因此，对于科研工作者来说，了解中科院SCI分区的标准和方法，以及具体的分区结果，对于评估自己的科研成果和选择合适的期刊发表论文都非常重要。

CiteScore（或称为引用指数）是由全球著名学术出版商Elsevier于2016年12月基于Scopus数据源推出的期刊评价指标。CiteScore指数能够反映期刊在较长时间内的平均影响力。通过计算期刊过去四年内发表的文章被引用的次数，这使得该指标能够更准确地评估期刊的影响力和学术价值。

自引率的计算公式为：自引率 = （期刊自己发表的文章被自己引用的次数） / （期刊自己发表的文章总数）。其中，期刊自己发表的文章指的是该期刊所发表的所有论文，包括文章、综述、简报、通讯等各类论文。如果自引率过高，可能会影响到该期刊的学术声誉和权威性。

中科院分区表

中科院 SCI 期刊分区 2022年12月升级版

Top期刊 综述期刊 大类学科 小类学科
是 是 工程技术 2区
COMPUTER SCIENCE, HARDWARE & ARCHITECTURE 计算机：硬件 ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC 工程：电子与电气
3区 3区

中科院 SCI 期刊分区 2021年12月基础版

Top期刊 综述期刊 大类学科 小类学科
是 是 工程技术 4区
COMPUTER SCIENCE, HARDWARE & ARCHITECTURE 计算机：硬件 ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC 工程：电子与电气
4区 4区

中科院 SCI 期刊分区 2021年12月升级版

Top期刊 综述期刊 大类学科 小类学科
是 是 工程技术 3区
COMPUTER SCIENCE, HARDWARE & ARCHITECTURE 计算机：硬件 ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC 工程：电子与电气
3区 3区

中科院 SCI 期刊分区 2020年12月旧的升级版

Top期刊 综述期刊 大类学科 小类学科
是 是 工程技术 2区
COMPUTER SCIENCE, HARDWARE & ARCHITECTURE 计算机：硬件 ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC 工程：电子与电气
3区 3区

JCR 分区

JCR 分区等级 按学科分区
Q2 COMPUTER SCIENCE, HARDWARE & ARCHITECTUREQ2
ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONICQ2

CiteScore 分区

CiteScore SJR SNIP CiteScore 排名
6.90 0.940 1.663
学科类别 分区 排名 百分位
大类：Engineering 小类：Electrical and Electronic Engineering Q1 145 / 738

80%
大类：Engineering 小类：Hardware and Architecture Q1 39 / 169

77%
大类：Engineering 小类：Software Q2 104 / 404

74%

文章摘录

  • A Low-Cost Reduced-Latency DRAM Architecture With Dynamic Reconfiguration of Row Decode
  • A Security-Enhanced, Charge-Pump-Free, ISO14443-A-/ISO10373-6-Compliant RFID Tag With 16.2-mu W Embedded RRAM and Reconfigurable Strong PU
  • A 4.5-W, 18.5-24.5-GHz GaN Power Amplifier Employing Chebyshev Matching Techniqu
  • Fast Estimation of a Statistical Eye Diagram for Nonlinear High-Speed Links Based on the Minimum Required Order of the Multiple Edge Response Metho
  • Multiple-Mode-Supporting Floating-Point FMA Unit for Deep Learning Processor
  • A High-Speed Low-Noise Comparator With Auxiliary-Inverter-Based Common Mode-Self-Regulation for Low-Supply-Voltage SAR ADC
  • BitXpro: Regularity-Aware Hardware Runtime Pruning for Deep Neural Network
  • Reliability Evaluation and Fault Tolerance Design for FPGA Implemented Reed Solomon (RS) Erasure Decoder

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